PERSISTÊNCIA ESPACIAL EM NANOTOPOGRAFIAS DE AFM: INSIGHTS ESTATÍSTICOS DOS QUADRANTES DO DIAGRAMA DE MORAN
Imagens de AFM, Índice de Persistência Espacial, Superfícies nanométricas, Filmes de nanocelulose.
Recentemente, o Índice de Moran Global (GMI) tem sido amplamente utilizado para avaliar
padrões espaciais em imagens obtidas por Microscopia de Força Atômica (AFM). No entanto,
sua natureza global pode ocultar variações locais importantes. Neste trabalho, propomos o Índice
de Persistência Espacial (SPI), um novo índice desenvolvido para quantificar a frequência relativa
de aglomerados locais de alturas semelhantes (classes HH e LL) em superfícies nanométricas.
Primeiramente, testamos nossa proposta em superfícies simuladas, incluindo padrões periódicos,
estruturas auto-afins e arranjos com diferentes graus de aleatoriedade. Nossos resultados mostram
que o SPI complementa o GMI ao capturar a persistência local mesmo em condições globalmente
fragmentadas. Em seguida, aplicamos ambos os índices, GMI e SPI, a imagens AFM de filmes
de nanocelulose derivados de diferentes espécies vegetais e realizamos análises estatísticas
para avaliar seu poder discriminativo. Os resultados mostram que o SPI identifica variações
topográficas locais sutis que passam despercebidas pelo GMI, evidenciando seu potencial como
ferramenta complementar para a caracterização de superfícies funcionais em escala nanométrica.